Tobón Llano, Luis EduardoEnríquez Polanco, Jorge AlbertoRodríguez Reyes, Michael2024-07-302024-07-302024https://vitela.javerianacali.edu.co/handle/11522/3651Este documento presenta un proyecto cuyo objetivo principal es reducir la cantidad de tiempo invertida en el monitoreo de los cultivos de banano, mediante la implementación de modelos de Aprendizaje Profundo (Deep Learning). Estos modelos se han utilizado para detectar y monitorear las enfermedades de Fusarium wilt y Xanthomonas wilt en los cultivos, empleando imágenes de alta resolución en RGB obtenidas por UAV (vehículos aéreos no tripulados). El proyecto se dirige específicamente a pequeños y medianos agricultores, con el propósito de agilizar los procesos de monitoreo de los cultivos de banano y detectar de manera temprana las enfermedades mencionadas. Para lograr este objetivo, se ha desarrollado un prototipo funcional que ha sido probado en cultivos reales. La implementación del prototipo se ha basado en los avances encontrados en el estado del arte relacionado con dispositivos y arquitecturas utilizadas en la implementación de inteligencia artificial en el monitoreo de cultivos. Además, se ha utilizado una base de datos proporcionada por el Centro Internacional de Agricultura Tropical (CIAT), que cuenta con más de 30 mil plantas de banano anotadas y etiquetadas por expertos fitopatólogos. En 3 cuanto a los objetivos cuantitativos, se ha logrado reducir en al menos un 25% el tiempo necesario para el monitoreo de los cultivos de banano, en comparación con los métodos tradicionales utilizados por los agricultores. Para lograr estos objetivos, se ha utilizado la metodología CDIO, que implica comprender inicialmente la situación, necesidad o problema en un contexto específico. A partir de esta comprensión, se ha diseñado una solución que se ha implementado realizando las modificaciones necesarias hasta llegar a la fase operativa del proyecto128 p.application/pdfspaDeep LearningDronesAgriculturaBananoCultivosMonitoreoCiencia de DatosAgricultureBananaCropsMonitoringData Sciencehttp://purl.org/coar/resource_type/c_bdcchttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/http://purl.org/coar/access_right/c_abf2